每次测量前都归零，还用考虑测量系统的偏倚吗？

偏倚是对同一个特性进行多次测量的平均值与标准值之差，是可以通过设备校准消除的。举一个简单的例子，如果用数显游标卡尺测量一个尺寸，在每一次测量前都进行一次归零校准，这种情况还要考虑偏移吗？