MSA

每次测量前都归零,还用考虑测量系统的偏倚吗?

偏倚是对同一个特性进行多次测量的平均值与标准值之差,是可以通过设备校准消除的。举一个简单的例子,如果用数显游标卡尺测量一个尺寸,在每一次测量前都进行一次归零校准,这种情况还要考虑偏移吗?

已邀请:

要回复问题请先登录注册