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我们用的是AOI检验外观缺陷,全自动的,遇到和AOI设备里储存的标准不一样时,会自动停机确认,这种情况是直接当作计数型数据做kappa呢?还是需要细分外观机的测试值(如缺陷面积或像素点)做GRR?按我的理解,外观缺陷只需要作为计数型做kappa就行了,但客户要求做GRR,很懵逼
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