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一直看到很多的书中和资料里都是对测量系统的重复性和再现性进行分析，这是最多的，也有对偏倚和线性分析的，但唯独没有看到对测量系统稳定性进行过分析的，请问是不是不需要？如果需要，什么情况下对测量系统的稳定性进行评价和分析？
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理论上，稳定性分析是需要做的。稳定性是偏倚在时间上的变化趋势，但我们常用的一些设备，比如卡尺、千分尺、三坐标、投影仪等，在时间序列上的变化几乎可以忽略不计，因此很少看到稳定性的分析报告。
但稳定性分析也是非常简单的，一般取一个标准样品，每天或每两周，甚至每周都可以，测量标准样品的偏倚值，然后绘制偏倚值时间上的控制图，通过控制图的判异原则判定稳定性是否合格。
This guy is lazy,Introduction has not been set
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