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计算过程能力指数Cpk,控制图显示许多点重合,就像下面这个图一样,第一反应是测量系统分辨力不足
但是,测量系统分析分辨力又是好的,像下面这个图一样,NDC=8,已经算是很好的了
这两者有点矛盾,请问是什么原因?
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方便告知一下如下数据吗?
1.测量设备的最小刻度
2.此SPC分析的特性及特性规范和公差
3.cpk值
4.完整的重复性和再现性的方差分析结果
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