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一直看到很多的书中和资料里都是对测量系统的重复性和再现性进行分析,这是最多的,也有对偏倚和线性分析的,但唯独没有看到对测量系统稳定性进行过分析的,请问是不是不需要?如果需要,什么情况下对测量系统的稳定性进行评价和分析?
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保证样本在研究期间不变质,然后用xbar-r或xbar-s图进行分析,如有超出控制线的点出现说明测量系统有变差,不稳定
这家伙很懒,还没有设置简介
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