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各位老师,请教一下,这是我们的一个尺寸数据做出来的CPK,制程稳定,但是不服从正态分布,想进一步分析,应该怎样处理哈,多谢
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从图上看,不是数据不服从正态分布的问题,而是你的测量系统分辨率不足的问题,控制图上很多点都在一起了,换一个更高级一点的测量设备吧
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