cpk计算的前提条件是过程处于统计控制状态，即过程受控，只受偶然因素的影响产生波动。
1.当过程没有发生偏移，即过程输出均值与中心值相等，这时：
Cpk=(USL-X)/3σ，而西格玛Z=(USL-X)/σ
根据以上两个公式可以推导：
Z=(USL-X)/σ=3*(USL-X)/3σ=3Cpk
当Cpk=1.33
则Z=3Cpk=3.99，可以知道这个过程是3.99个西格玛水平，由此计算产品的不良率，即阴影部分的面积：
P=1-(φ(3.99)- φ(-3.99))=1-(φ(3.99)-(1-φ(3.99)))=1-(2φ(3.99)-1)=2-2φ(3.99)
查正态分布表，φ(3.99)=0.99996833
P=2-2*0.99996833=0.00006334，即每100万个产品中有63.34个不良品 .
当然，这个是比较理想的状态，过程输出的均值总是偏离中心值的，因此要考虑偏移的情况。
2.当过程发生偏移，即过程输出均值与中心值不相等，根据上面的推导公式：
Z=3Cpk=3*1.33=3.99
即每100万个产品中有6400个不良品，不良率是99.36%
这家伙很懒，还没有设置简介
