测量仪器校准可以消除偏倚吗?
我认为校准不能消除偏倚。
先看两者的定义:
1.校准是在规定的条件下,用一个可参考的标准,对测量仪器的特性赋值,并确定其示值误差,目的是给测量仪器赋予一个标准的示值。
2.偏倚是多次测量的平均值对真值的偏离,真值是没有办法获取的,只能通过使用更高级的测量设备获取接近真值的测量值,把这个测量值看成是真值,研究偏倚的目的是获取测量系统的结果偏离真值的状况。
校准的边界是测量仪器,相当于对每个量程进行“归零检验”。而偏倚研究的边界是整个测量系统,这个系统包含评价人、仪器、测量对象、方法、环境。
测量仪器≠测量系统,这是都熟知的一个知识点。
即使测量仪器通过校准之后,示值“完美无瑕”,但也无法消除偏倚,因为还受到评价人、方法、环境的影响,同样会产生偏倚。
通过校准的方式,可以减小偏倚,但不能说能消除偏倚。
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